ГОУ СПО Астраханский колледж вычислительной техники
М.В. Васильев
преподаватель специальных дисциплин
Астраханского колледжа вычислительной техники.
ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА
СРЕДСТВ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ
учебное пособие для преподавателей и студентов средних профессиональных учебных заведений по специальности 230101
«Вычислительные машины, комплексы системы и сети»
Астрахань 2007
Настоящее учебное пособие посвящено вопросам диагностики неисправностей средств вычислительной техники. Предлагаемое пособие написано в соответствии с действующей программой курса «Техническая диагностика СВТ», в соответствии с Государственным образовательным стандартом среднего профессионального образования по специальности 2201 “Вычислительные машины, комплексы, системы и сети” от 8 февраля 2002 года и Дополнением к Государственному образовательному стандарту по специализации 2201.01 “Техническое обслуживание средств вычислительной техники” от 25 сентября 2003 года. Настоящее пособие содержит основные теоретические положения, касающиеся организации, архитектуры и особенностей технической диагностики персональных ЭВМ типа IBM PC/AT. В пособии приведены методики профессионального обслуживания аппаратно-программных вычислительных систем, организованных на базе персональных компьютеров и углубленной диагностики их неисправностей. Большое внимание уделено программным и аппаратным средствам диагностики неисправностей компонент аппаратно-программной системы, ее периферийных устройств и использованию сервисных средств диагностики. В нем приведены также характеристики встроенных тест-программ, основные симптомы неисправностей СВТ, сообщения об ошибках загрузки операционной системы, прогоне прикладных программ и т. д.
Предлагаемое учебное пособие может быть использовано в качестве основного материала для лекционной работы преподавателей и учебного пособия для студентов средних учебных заведений по специальности 230101 «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети», при изучении ими дисциплины «Техническая диагностика средств вычислительной техники».
Введение
Настоящий курс лекций по дисциплине «Техническая диагностика средств вычислительной техники» входит в модуль специализации 230101.51 «Техническое обслуживание средств вычислительной техники» и является, наряду с дисциплинами «Техническое обслуживание средств вычислительной техники» и «Системотехническое обслуживание аппаратно-программных систем и комплексов», профилирующей – для получения студентами ССУЗ квалификации Техник базового уровня подготовки по специальности 230101.
Задачи курса:
1. Изучить структуру и архитектуру АПС типа РС.
2. Изучить основные средства функционального контроля и методы диагностики АПС.
3. Научиться проводить классификацию неисправностей по степени их жесткости и связи с компонентами ВС.
4. Изучить основные симптомы неисправностей АПС, возникающих при включении РС, загрузке ОС и прогоне прикладных программ.
5. Изучить симптомы аппаратных неисправностей системной платы, консоли и некоторых других периферийных устройств РС.
Содержание курса:
1. Для связи симптомов неисправностей с узлами и компонентами ПЭВМ следует хорошо разбираться в архитектуре, структуре ПЭВМ, для чего предназначен первый раздел курса, в котором рассматривается обобщенная блок-схема РС, архитектура микропроцессора, разновидности микропроцессоров, их структурная схема и функциональные сигналы управления. Для примера подробно рассматривается микропроцессор i386, как типичный представитель микропроцессоров четвертого поколения, использующихся в РС/АТ, начиная с IBM РС 386, и до современных моделей типа Pentium.
2. Для проведения углубленной диагностики неисправностей РС требуются достаточно глубокие знания по особенностям архитектуры как самого CPU, так и средств его системной поддержки. Поэтому здесь рассмотрено взаимодействие CPU с контроллером его системной поддержки, поддержки системной шины, а также с контроллерами и адаптерами ОЗУ, кэш-памяти, системной шины, устройств внешней памяти и ввода-вывода оперативной информации.
3. Далее рассматриваются основные методы диагностики основных периферийных устройств ПК – устройств консоли, внешней памяти, средств коммуникации компьютера, вывода аудиоинформации.
4. Во втором разделе настоящего пособия изучаются приемы разборки и сборки РС, аппаратный и программный аспекты диагностики АПС, стандартная и специальная КИА, используемая при аппаратном способе локализации неисправностей в РС, а также программные средства диагностики неисправностей РС.
5. Третий раздел пособия содержит достаточно подробные сведения о приемах автономного и комплексного методов функционального контроля АПС, АПК и их периферийного оборудования.
Раздел 1 Архитектура и структура ПЭВМ IBMPC и их клонов
Особенности контроля и диагностики микроЭВМ.
Персональный компьютер, как известно, относится к типу микро-ЭВМ, т. е. ЭВМ, используемых микропроцессорные структуры. Микро-ЭВМ, в отличие от других типов вычислительных устройств, имеет свои достоинства и недостатки в плане диагностики их неисправностей.
Поиск неисправностей в микроЭВМ осложнен целым рядом причин, наиболее важными из которых представляются следующие:
1) высокая сложность СБИС. Обычный однокристальный микропроцессор имеет около 200 внутренних запоминающих элементов (информационных, управляющих регистров и триггеров) и, соответственно, 2200 возможных состояний, поэтому полный контроль микропроцессорных СБИС практически невозможен и отдельные неисправности, вызванные взаимным влиянием отдельных элементов СБИС, могут проявляться в виде редких нерегулярных сбоев;
2) малое число контрольных точек схемы (выводов ИМС) приводит к тому, что подача тестирующих воздействий на нужные точки схемы и контроль их состояния носит косвенный характер. Доступ к внутренним элементам СБИС возможен только под микропрограммным управлением, т. е. генерация тестовых последовательностей возможна, в основном, только средствами микропрограммного управления самого микропроцессора или микроконтроллера;
3) неразделимость аппаратных и программных средств управления микропроцессорной системы. Часто провести четкую границу между аппаратными и программными средствами микропроцессорной системы нельзя, так как в большинстве микропроцессоров ПЗУ микропрограмм выполнено на самом кристалле СБИС микропроцессора;
4) сложность и неразделимость аппаратных средств микроЭВМ. Микропроцессорную систему часто невозможно разделить на отдельные функциональные узлы (ТЭЗ, как в больших ЭВМ), потому что часто вся микро-ЭВМ, или, по крайней мере, ее системная плата, исполняются в виде одного конструктивно законченного узла. Во-вторых, часто в одной СБИС, например, контроллере системной поддержки микропроцессора, совмещены различные функции: управление и выполнение арифметических процедур, запрограммированная конфигурация, выполнение функций ввода-вывода и т. д., и наоборот – одна функция может реализовываться по частям в разных СБИС и т. п. Так что диагностика неисправностей микро-ЭВМ требует высокой квалификации обслуживающего персонала;
5) необходимость одновременного контроля состояния шин. Микропрограммный характер генерации тестовых воздействий требует наблюдения и регистрации всех сигналов шин на больших временных интервалах, чтобы можно было зафиксировать редкие и однократные события. Эти события идентифицируются заданными комбинациями сигналов на шинах адреса, управления, данных, и даже заданной последовательностью таких комбинаций. Например, регистрация первичной ошибки только в n-м такте операции умножения с плавающей точкой, только с определенными операндами, да еще и на фоне обмена данными с принтером. Подобную регистрацию можно провести только на специальной нестандартной КИА – анализаторе логических состояний;
6) высокое быстродействие. Тактовая частота современных микропроцессоров достигает сотен МГц и даже ГГц, так что разрешающая способность стандартной и нестандартной КИА должна быть не ниже тысяч МГц, но такая аппаратура очень сложна, дорога и редка;
7) шинная организация микропроцессорной системы часто требует использования тристабильных элементов (с Z-состоянием) с подключением в одну точку многих передатчиков и источников сигналов, что приводит к трудностям определения источника искажения информации в магистрали;
8) мультиплексирумость шин микропроцессорной системы, вызываемая необходимостью сокращения числа выводов СБИС, приводит к временному разделению одной и той же шины между младшей и старшей частями адреса, адресом и данными, данными и сигналами управления и т. п. Это требует дополнительной идентификации характера информации на шине и сильно усложняет диагностику магистралей.
Но, наряду с вышеуказанными сложностями, микропроцессорные системы имеют и ряд преимуществ при диагностике неисправностей в них:
1) стандартная форма электрических сигналов. Важной особенностью всех цифровых, дискретных устройств, реализованных на стандартных наборах БИС, является стандартное представление информации электрическими сигналами одинаковой амплитуды (логические нуль и единица представляются сигналами нулевого уровня и/или сигналами уровня амплитудой порядка +5 вольт). В этом случае, прибегать к измерениям аналоговых величин (амплитуды, длительности фронтов), приходится только в блоках ЦАП и АЦП, или при подозрении на выход из строя одной из компонент схемы. Эта стандартность дает возможность разрабатывать КИА со средствами стандартного подключения к контролируемым точкам системы, что снижает стоимость такой КИА и, в большой степени, сокращает вероятность ошибок оператора. Примером такой КИА могут быть логические пробники и измерительные клипсы, одеваемые прямо на выводы исследуемых ИМС;