Расчет показателей надежности состава ЗИП погрешности электронных средств (стр. 2 из 2)

E(KСR₁)=0%, E(KСR₂)=0%, E(KСR₃)=0%;

δ(KСR₁)=33%, δ(KСR₂)=25%, δ(KСR₃)=20%;

Среднее значение E(KCY) коэффициента старения (КС) выходного параметра и величина половины поля рассеивания l(KCY)KC выходного параметра:

E(TKY) = 2/15*0+2/3*0+1/5*0 = 0%;

l(TKY) = ((2/15)²*33²+(2/3)²*25²+(1/5)²*20²)^1/2≈17.7%;

Среднее значение E_y^τ и величина половины поля рассеивания l_y^τ погрешности старения выходного параметра:

τ=2000 часов;

E_y^τ = τ* E(KCY) = 2000*0 = 0 ч.;

l_y^τ = τ* l(KCY) = 2000*0.177 = 354 ч.;

Параметр	Eyτ ч.	lyτч.
Значение	0	354

Определяем верхнюю и нижнюю границу поля рассеивания эксплуатационной погрешности:

Среднее значение эксплуатационной погрешности выходного параметра для температуры t и времени τ:

E_y^{t, τ} = E_y^пр + E_y^t + E_y^τ = 0+0+0 = 0;

Величина половины поля рассеивания эксплуатационной погрешности выходного параметра для температуры t и времени τ:

l_y^t1,0 = (0.0745²+6.545²+0²)^1/2=6.54;

l_y^t2,0 = (0.0745²+2.805²+0²)^1/2=2.80;

l_y^t1,Т = (0.0745²+6.545²+354²)^1/2=354.06;

l_y^t2,Т = (0.0745²+2.805²+354²)^1/2=354.01;

Итоговая верхняя и нижняя границы поля рассеивания эксплуатационной погрешности выходного параметра для температуры и времени:

l₊^t,τ = 354.06; l_-^t,τ = – 354.06;